20L高低溫試驗箱，芯片高 低溫老化箱外形小巧，節約空間，操作簡單，經濟實惠；小型高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產品、其他零部件在高溫、低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，考核其各項性能指標。
20L高低溫試驗箱，芯片高 低溫老化箱技術參數：
1、范圍： -75、-40℃--150℃；
2、波動度：≤±0.5℃；
3、均勻度：≤±2℃ ；
4、內箱尺寸（mm）：300×300×225 （W×H×D)；
5、外箱尺寸（mm）：460×910×785 （W×H×D)；
6、電源： 220V 50Hz 2.5KW。
20L高低溫試驗箱，芯片高 低溫老化箱結構特點:
1、箱體采用CNC數位工作母機成型，造型美觀大方；
2、箱體內部采用SUS304鏡面不銹鋼板，外部采用SECC鋼板噴塑處理，以
增加外觀質感及潔凈度；
3、大型觀察窗，配有照明燈，保持箱內明亮，利用發熱體內嵌式玻璃，隨時保持清晰的觀測箱內的狀況；
4、機器底部采用高質量可固定式活動輪，以便固定及移動之用。
20L高低溫試驗箱適用范圍：
小型高低溫試驗箱外形小巧，節約空間，操作簡單，經濟實惠；小型高低溫試驗箱適用于IC,PCB板、晶圓，可控硅，半導體，電阻、電容、電工、電子產品、其他零部件在高溫、低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗，考核其各項性能指標。
《GB/T 2421/2/3/4-2008 電工電子產品環境試驗》
《GJB 150A-2009 軍 裝備實驗室環境試驗方法》
《GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法》
《JJF 1101-2003 環境試驗設備溫度、濕度校準規范》
《GB/T 5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備》
